原材料检验—半导体类检验标准及规程
福 建 省 苍 乐 电 子 企 业 有 限 公 司FUJIAN JOINLUCK ELECTRONIC ENTERPRISE CO.,LTD.文件编号WI－JLRD－052
生效日期2006年10月13日
原材料检验—半导体类检验标准及规程版 次2.1
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1. 适用范围
直接用于生产的各种规格型号的二极管、触发管、稳压管、开关三极管、硅光电三极管、场效应管、可控硅等。
2. 检验仪器设备、检具、辅助材料
QT2晶体管特性图示仪、UI9600晶体管热敏参数仪、TE2660型电容器耐压测试装置、WY502CC恒流源、MF500指针万用表、UT70A数字万用表、101－2型电热鼓风干燥箱
3. 抽样方案：执行GB2828一次抽样正常检查水平
4.项目分类、质量标准、检查水平、合格水平
项目分类检查项目质量标准检测仪器检查水平AQL
外观外观检验符合要求(详见附录)目测S－31.0
性能二极管整流及快恢复二极管反向击穿电压VRRM击穿曲线陡直，击穿电压值符合规定值QT2S－30.40
反向漏电流IR符合规定值UT70A S－11.5
正向压降VF符合规定值
触发二极管击穿电压VBO转析曲线，击穿电压符合规定值QT2S－30.40
回弹电压ΔV回弹电压符合规定值
对称性两个方向击穿电压符全规定值，对称性好
稳压二极管转折电压VZ转折曲线陡直，转折电压符合规定值QT2
三极管开关三极管集－射极击穿电压Vceo符合规定值QT2
输出特性输出特性曲线符合要求QT2
直流放大倍数β符合规定值UI9600Ⅱ*0.15
存储时间Ts符合规定值UI9600S－30.65
光电三极管输出特性输出特性曲线符合要求QT2S－30.40
集－射极击穿电压Vceo符合规定值
阻值测试符合规定值MF500
场效应管输出特性输出特性曲线符合要求QT2
漏-源击穿电压VDS符合规定值
可控硅输出特性输出特性曲线符合要求QT2
维持电流IH 符合规定值
正向阻断电压符合规定值
阻值测试符合规定值MF500
注：质量标准详见附录
*：三极管KSP2222A的放大倍数β和存储时间Ts仍按特殊检查水平S－3进行，AOL=0.40。
5. 检验过程
5.1 核对《进料报检单》(见《检验和试验控制程序》附录一)与客户订单、采购合同单内容是否相符，确认材料产品标识、名称、数量、规格，核对无误后从GB2828标准中查出抽样数量及Ac/Re值，将有关数据、资料填入《半导体类检验记录表》及《进料检验报告单》中(见《检验和试验控制程序》附录二、附录三)；
审核人 校对人 编制人
日期 日期 日期
5.2 外观检验
5.2.1将待检性能样本抽挑出来；
5.2.2 根据质量标准(见附录)进行检验；
5.3 性能检验
5.3.1 将待检性能样本抽挑出来；
5.3.2 检验步骤及质量标准见附录；
5.4 在检验过程中随时将检验结果填入《半导体类检验记录表》中，根据记录结果及质量标准填写《进料检验报告单》，并依据要求做出判定。
6. 注意事项
6.1 检验员在挑选待检样本时，应注意全面覆盖性、代表性、随机性原则；
6.2 在测量时，晶体管特性图示仪的各档开关应选择在正确位置，特别是在检验三极管、场效应管时，“测试选择”和“输入”应拨到正确位置；
6.3 要注意安全，当按下测试按扭时，切勿用手触及二极管的两端或测试架的两端(高压3000V)，避免发生危险；
6.4 在测量三极管、场效应管的放大倍数时，三极管、场效应管不能长时间(时间一般控制在5秒以内)插在三极管测试插座上，以免影响测量的准确性；
6.5质管部应要求供应商随货附上产品出厂检验报告，报告中应包含我司与供应商签订的《三极管技术协议》的内容，并要求供应商每年提供一次由省级以上检测机构出具的检测报告。
7. 相关文件：《检验和试验控制程序》编号：QP-JLQC-003
8. 附录：《半导体类质量标准及检验步骤》附录
半导体类质量标准及检验步骤
1. 外观检验：
1.1元件的表面不得出现残缺及伤痕。
1.2元件打印字体要清晰，内容必须与型号规格相符。
1.3 元件引脚光亮无油污，无明显发黄、露铜、锈斑等氧化现象。
2. 性能检验
2.1 二极管检验
2.1.1 整流二极管及快恢复二极管检验
2.1.1.1 反向击穿电压VRRM
使用QT2型晶体管特性图示仪测试二极管反向击穿电压，测试步骤如下：
a. 装上二极管测试架。
b. 调整各档开关如下表所示：
二极管输出电压电流/度电压/度功耗电阻峰值电压
1N40071N5399FR1075000V200μA200V1KΩ5
1N4148500V200μA20V1KΩ3
FR1045000V200μA200V1KΩ3
FR105BYV26C5000V200μA200V1KΩ4
c. 开启电源，调整辉点使之位于左上方。
d. 按测试架面板标示极性装上二极管。
e. 按下测试开关按钮，进行测试(注意高压)。
f. 此时，图示仪出现右图所示陡直的击穿曲线，同时击穿电压应满足下表的要求。
二极管格数X对应击穿电压
1N40071N5399FR107X≥7≥1400V
1N4148X≥6≥120V
FR104X≥3≥600V
FR105X≥4≥800V
BYV26C
X≥5≥1000V
2.1.1.2反向漏电流IR
使用TE2660电容耐压测试仪，UT70A数字万用表测试二极管反向电流，测试步骤如下：
a. 将二极分别贮存在25℃及100℃的干燥箱中30min，并以引线引出。
b. 如图所示，在引线端串上UT70A数字万用表(电流档)，然后接在TE2660 直流输出端，按下表要求调整输出电压，10min后记录万用表读数，其反向漏电流IR应满足下表的要求。
二极管输出电压TA=25℃TA=100℃
1N40071N5399 FR1071000V≤5μA≤10μA
1N4148100V≤5μA≤10μA
FR104400V≤5μA≤10μA
FR105600V≤5μA≤10μA
BYV26C
600V≤5μA≤10μA
2.1.1.3 正向压降VF
使用WY502CC恒流源和UT70A数字万用表进行正向压降测试，测试步骤如下：
a. 将二极管分别贮存在25℃及100℃的干燥箱中30min，并以引线引出。
b. 如图所示，将二极管接在恒流源上，并在二极管两端接上数字万用表(电压档)，按下表调整恒流源输出电流，5min后记录数字万用表上的电压读数，其数值必须满足下表的要求。
触发二极管DB3检验
原材料检验—半导体类检验标准及规程所有半导体检验标准.
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实用，好用，方便就可以了，改成自己的。
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